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低壓單端探頭通常用于測量低于 12 V 以地參考的高速信號。這種低壓探頭是在高阻抗、高頻電路元件上進行測量的優秀選擇，這些測量中需要將探頭負載影響降至最低。 用戶應選擇具有低輸入電容指標 (~1 pF) 的探頭以最大程度降低探頭對電路的負載影響。 具有較低輸入電容的探頭能在更高頻率上提供更高輸入阻抗。
泰克低壓單端探頭解決方案提供：
帶寬高至 4 GHz。
很高的輸入阻抗，很低的輸入電容 (<1 pF)
全面的探頭附件，實現優異的測量性能
項目服務：輝科實業 技術支持：13063638652
產品概述
TAP2500、TAP3500 和 TAP4000 單端有源 FET 探頭提供完美的高速電氣和機械性能，滿足了當今數字系統設計要求。
杰出的電氣性能
高探頭帶寬
快速探頭上升時間
完美的信號保真度
≤0.8 pF 輸入電容
40 k? 輸入電阻
-4 V ~ +4 V 輸入動態范圍
-10 V ~ +10 VDC輸入偏置范圍
±30 V (DC + 峰值 AC) 最大輸入電壓 (非破壞性)
通用機械性能
緊湊的小型探頭頭部，用來探測小型電路單元
DUT 連接附件可以連接間隙最小 0.5 mm 的 SMD
強健的設計，可靠性高
簡便易用
直接連接帶 TekVPI? 探頭接口的示波器
在示波器顯示畫面上自動確定單位和讀數
簡便接入示波器探頭菜單畫面，獲得探頭狀態/診斷信息，控制探頭 DC 偏置
通過示波器遙控 GPIB/USB 探頭
應用
檢驗、調試和表征高速設計
信號完整性、抖動和定時分析
制造工程和測試
信號電壓擺幅最高 8 Vp-p
為應用選擇合適的探頭是在測量中取得最佳信號保真度的關鍵。有源探頭為高頻測量提供了更真實的信號復制和保真度。由于我們的超低輸入電容和獨特的接口，TAP2500、TAP3500 和 TAP4000 單端有源 FET 探頭提供了完美的高速電氣和機械性能，滿足了當今數字系統設計要求。
TAP2500、TAP3500 和 TAP4000 有源 FET 探頭是為用于及直接連接帶 TekVPI? 探頭接口的示波器設計的，通過解決三個傳統問題，實現了高速信號采集和測量保真度：
≤0.8 pF 輸入電容和 40 k? 輸入電阻，DUT 負載影響更低
利用多功能 DUT 連接可連接到小型 SMD
在探頭尖端保持儀器帶寬，支持最高 3.5 GHz 示波器
除另行指明外，所有技術數據都是有保障的數據。除另行指明外，所有技術數據均適用于所有型號。
衰減（僅探頭）
10X
上升時間(僅探頭)
<140 ps (TAP2500)
<130 ps (TAP3500)
帶寬（僅探頭）
≥2.5 GHz (TAP2500)
≥3.5 GHz (TAP3500)
≥4 GHz (TAP4000)
上升時間（僅探頭）
≤115 ps (TAP4000)
輸入電容
≤0.8 pF
輸入電阻
40 kΩ
輸入動態范圍
±4.0 V
輸入偏置范圍
±10 V
最大無損輸入電壓
±30 V (DC + 峰值 AC)
傳播延遲
5.3 ns
探頭頭部尺寸
高度
7.6 毫米 (0.30 英寸)
寬度
7.6 毫米 (0.30 英寸)
長度
57.2 毫米 (2.25 英寸)
其他尺寸
電纜長度
1300 毫米 (51 英寸)
重量
毛重
1.55 公斤 (3.44 磅) (探頭、附件和包裝)
凈重
0.091 公斤 (0.2 磅) (僅探頭，使用 ME 實驗室規模)
探頭直接由帶有 TekVPI 探頭接口的示波器供電。
溫度
工作狀態
0 °C ~ +50 ° (+32 °F ~ 122 °F)
非工作狀態
-40 ° C ~ +71 °C (-40 °F ~ 160 °F)
濕度
工作狀態
5% ~ 95% 相對濕度，+30 °C (+86 °F)及以下時
5% ~ 85% 相對濕度，+30 °C ~ +50 °C (+86 °F ~ +122 °F)時
無冷凝
非工作狀態
5% ~ 95% 相對濕度，+30 °C (+86 °F)及以下時
5% ~ 85% 相對濕度，30 °C ~ +75 °C (+86 °F ~ +167 °F)時
無冷凝
海拔高度
工作狀態
最高 4,400 米 (14,436 英尺)
非工作狀態
最高 12,192 米 (40,000 英尺)
輻射規定
EN 55011，A 類
法規
一致性標簽
C-Tick (澳大利亞/新西蘭)
CE（歐盟）
WEEE（歐盟）
Jiangsu Huike Electronic Industry Co., Ltd
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